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    PROBE 30B低頻磁場探頭(配合輻射分析儀) 輻射測量儀

    更新時間:2025-01-02

    訪問量:2534

    簡要描述:
    PROBE 30B低頻磁場探頭(配合輻射分析儀),PROBE 30B頻率測量范圍為5Hz-400KHz,覆蓋了工業和醫療科技(ISM)行業的應用。
    品牌其他品牌測量范圍-
    測量對象-靈敏度-
    產地國產測量物質其他
    儀器類型便攜儀器種類計量/劑量率儀

                                                     PROBE 30B低頻磁場探頭(配合輻射分析儀)


    PROBE 30B低頻磁場探頭(配合輻射分析儀)


    產品描述

    概述

    *微納德Microrad低頻磁場探頭PROBE 30B,是一款三維磁場探頭,對應三維(x&y&z)

    空間的分量可單獨地在探頭輸出,配合微納德Microrad 寬頻電磁輻射分析儀主機

    測量各向同性的磁場強度。

    *低頻磁場探頭PROBE 30B頻率測量范圍為5Hz-400KHz,覆蓋了工業和醫療科技(ISM)

    行業的應用。

    *微納德寬頻主機搭配低頻磁場探頭PROBE 30B能夠實現對公共電磁環境控制限值

    (GB 8702-2014)以及工作場所有害因素職業接觸限值(GBZ 2.2-2007)的低頻磁場進行檢測

    與分析。


    典型應用

    *供電廠、高壓輸電線、變電站

    *鐵路和地面運輸系統電力設備的測量

    *工業爐、焊接、回火和干燥設備

    *透熱設備和醫療設備(如NMR/MRI)

    *CEI EN 50500《對人體暴露于鐵路電子電氣設備環境測量標準》

    *CEI EN 62233《對人體暴露于家用及類似用途電器電磁場測量標準》


    產品規格

    頻率范圍

    5Hz – 400KHz

    頻率響應類型

    平坦

    測量范圍

    0.3 µT – 16 mT

    動態范圍

    >94 dB

    傳感器類型

    電磁線圈

    方向性

    各向同性

    頻率響應的平坦度

    ±0.5 dB (50 Hz – 50 kHz) @ 30 µT

    ±1 dB (50 kHz – 400kHz) @ 30 µT

    線性度

    ±0.5 dB (1 µT – 1mT)

    各項同性的響應

    ±0.5 dB ( @50Hz )

    頻率校準

    5-16.7-50-150-500-1500-5000-15000-
    50000-100000-400000 (Hz)

    建議校準周期

    24個月

    工作溫度

    0°C – 50°C

    尺寸

    365 x 120 (mm)

    重量

    135g

    產地

    意大利



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